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光學(xué)零件圖紙中的常用標(biāo)注
來源: | 作者:和宸晶體 | 發(fā)布時(shí)間: 2020-02-22 | 8814 次瀏覽 | 分享到:
本文介紹了光學(xué)零件圖紙中的常用標(biāo)注,以供參考。
      光學(xué)設(shè)計(jì)師和研發(fā)人員應(yīng)確定光學(xué)元件和系統(tǒng)的技術(shù)要求,為后續(xù)生產(chǎn)編制的公差必須與生產(chǎn)量一致。
      下面詳細(xì)解釋光學(xué)元件的重要標(biāo)注方法。
1、材料標(biāo)注
      材料標(biāo)注確定玻璃類型以及所允許的性質(zhì)偏離。除了玻璃數(shù)量,根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)DIN ISO 7944,還要規(guī)定折射率和阿貝數(shù)。
2、形狀標(biāo)注
      一個(gè)光學(xué)元件的形狀標(biāo)注與表面有關(guān),通常,以毫米或英寸為單位表示半徑R,并給出所需公差。彎曲方向表示為:
  1. 凸表面   CX;
  2. 凹表面   CC;
  3. 平面      ∞。
      厚度、直徑和長度應(yīng)給出名義值和公差,還要標(biāo)出有效光學(xué)直徑φe和倒角。
3、表面質(zhì)量標(biāo)注
     表面質(zhì)量標(biāo)注包括表面缺陷、表面質(zhì)量、所需要的表面處理和鍍膜,確定光學(xué)元件允許的表面缺陷,特別是通光孔徑(CA)內(nèi)的擦痕、麻點(diǎn)(也稱氣孔)、印跡和油污,參考下表。
根據(jù)標(biāo)準(zhǔn) DIN ISO 10110確定材料的技術(shù)要求
標(biāo)號(hào) 內(nèi)容 技術(shù)要求 例子
0 應(yīng)力雙折射 0/A
(A是雙折射最大允許值,單位每厘米光路長度納米)
0/10
(雙折射最大允許值10nm/cm)
1 允許氣泡和其他雜質(zhì) 1/N×A
(缺陷數(shù)目×其大??;等級(jí)
1/5×0.4
(允許缺陷的最多數(shù)量5個(gè),等級(jí)0.40)
2 不均勻性和條紋 2/A;B
(A=不均勻性等級(jí);B=條紋等級(jí))
2/1:1
(每種都是1級(jí))

根據(jù)標(biāo)準(zhǔn) DIN ISO 10110確定形狀的技術(shù)要求

標(biāo)號(hào) 內(nèi)容 技術(shù)要求 例子
3 形狀擬合公差(俗稱面型) 3/A(B/C)
(A=干涉條紋的垂直誤差;B=干涉條紋的不規(guī)則度;
C=干涉條紋的旋轉(zhuǎn)對(duì)稱不規(guī)則度)
3/10(2)
(垂直公差最大值可以是10個(gè)干涉條紋。
不規(guī)則度不大于2個(gè)干涉條紋)
4 中心差 4/σ
[σ=傾斜角,單位是分(’)]
4/10'
(最大傾斜角是10’)

      表面質(zhì)量定義為光學(xué)表面輪廓的全局統(tǒng)計(jì)特性,參考下表。按照該定義,預(yù)先假定待測(cè)表面上任何一點(diǎn)結(jié)構(gòu)的特性好尺寸都是相同的,所以,對(duì)其中一部分表面的 測(cè)量就代表整個(gè)表面或各向同性表面的測(cè)量。
根據(jù)標(biāo)準(zhǔn) DIN ISO 10110確定表面質(zhì)量的技術(shù)要求
標(biāo)號(hào) 內(nèi)容 技術(shù)要求 例子
5 表面缺陷 5/N×A
(N=表面缺陷的數(shù)量;A=表面缺陷的尺寸等級(jí))
5/5×0.4
(允許表面缺陷數(shù)量的最大值是5,等級(jí)0.4)
        此外,激光光學(xué)元件的技術(shù)圖紙用標(biāo)號(hào)6標(biāo)注損傷閾值,見下表。

根據(jù)標(biāo)準(zhǔn) DIN ISO 10110確定激光損傷閾值的技術(shù)要求
標(biāo)號(hào) 內(nèi)容 技術(shù)要求 例子
6 激光損傷閾值 6/DS;λ;τeff
(DS為損傷值和相關(guān)單位;λ為測(cè)試波長;τ為脈沖周期或輻
照時(shí)間
6/1J.cm-2;1064nm;20ns
(波長1064nm和有效脈沖持續(xù)時(shí)間20ns是的損傷閾值大于1J.cm-2
的能量密度

        另外,按照標(biāo)準(zhǔn)DIN ISO 10110,拋光表面分為4個(gè)等級(jí),每個(gè)等級(jí)對(duì)應(yīng)確定的范圍,下表列出了每個(gè)等級(jí)10mm測(cè)量長度允許的微缺陷數(shù)目。
根據(jù)標(biāo)準(zhǔn) DIN ISO 10110對(duì)拋光等級(jí)分類
拋光等級(jí) 每10mm測(cè)量長度允許的微缺陷數(shù)目N
P1 80<N<400
P2 16<N<400
P3 3<N<16
P4 N<3

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